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Analyse de surface

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03 Juin 2014  |  Analyse de surface

Une analyse de surface des couches minces

L’analyse des surfaces des matĂ©riaux et des composants devient de plus en plus importante en raison des traitements appliquĂ©s. Il existe actuellement un grand nombre de mĂ©thodes de caractĂ©risation des surfaces, telles que MEB, SIMIS, XRF, XPS, etc.
30 AoĂ»t 2013  |  Analyse de surface

OberflĂ€chenanalyse an dĂŒnnen Schichten

L’analyse des surfaces des matĂ©riaux et des composants devient de plus en plus importante en raison des traitements de surfaces appliquĂ©s. Il existe actuellement un grand nombre de mĂ©thodes de caractĂ©risation des surfaces, telles que MEB, SIMIS, XRF, XPS, etc.
13 Avril 2012  |  Analyse de surface

Schnelle prozessbegleitende OberflÀchenanalyse

L’importance et les exigences aux propriĂ©tĂ©s des surfaces augmentent constamment dans la technique. La composition de la surface joue un rĂŽle prĂ©dominant pour ses propriĂ©tĂ©s. Parmi les mĂ©thodes d’analyses des surfaces, la spectroscopie Ă  dĂ©charge luminescente (SDL) est une technique rapide et fiable. Ainsi on peut obtenir des profils en profondeur quantitatives des couches fonctionnels ou des outils nitrurĂ©s en plasma.
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